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鲁汶仪器邀您共襄第11届半导体设备材料与核心部件展示会
CSEAC 是我国半导体行业权威设备与核心部件展示会,已成功举办十届。十年的坚守,铸就了CSEAC的专业性、品牌影响力与资源召唤力。我们以“高水平、专业化、产业化”为办会宗旨,力争打造国内外半导体行业技术交流、经贸洽谈、市场拓展、产品推广的优质平台。
CSEAC 2023
展 商 风 采
专业厂商,邀您参观
江苏鲁汶仪器股份有限公司
展位号 A1-T47
江苏鲁汶仪器股份有限公司于2015年9月,由比利时鲁汶仪器、中国科学院微电子研究所等共同注资成立。总部位于江苏省徐州市,在北京、上海设有全资子公司。
鲁汶仪器致力于为12英寸及8英寸集成电路制造线提供先进的装备和工艺解决方案。针对逻辑、存储、功率器件、光学、微显示等领域的关键工艺道次,鲁汶仪器研发了一系列12英寸及8英寸等离子体刻蚀系统、薄膜沉积系统,以及气相分解金属沾污收集系统(VPD),为客户提升产能、优化工艺提供稳定可靠的设备与完善的技术支持。
地址:江苏省徐州市邳州经济开发区辽河西路8号
网址:www.leuven-instruments.cn
主 营 业 务 介 绍
Pishow® 系列8英寸ICP刻蚀系统
Pishow® 系列8英寸ICP刻蚀系统,是面向半导体晶圆制造所设计的专用设备,可实现铝互连,STI和栅极刻蚀,深硅刻蚀以及主流的化合物刻蚀工艺。
Pishow® M2 金属刻蚀系统可用于8英寸的IC产线的铝金属互连及铝垫刻蚀工艺。Pishow® P硅刻蚀系统,提供AA、gate、STI、spacer、W recess等各项工艺的刻蚀解决方案。Pishow® A2刻蚀系统则拥有多种材料刻蚀解决方案,包括介质和化合物半导体,高配可选ALE解决方案,实现对刻蚀速率和均匀性的高精度控制。
值得一提的,Pishow® 系列专为8英寸生产线的刻蚀工艺进行了设计优化,在保证领先业界的刻蚀均匀性,出色的刻蚀选择比,以及优良的颗粒控制这些指标的同时,达成了远超行业水准的MTBC时数,大大降低了CoC。该系列以其高性价比的解决方案和优秀的空间利用率,为客户投产、达产以及产能升级提供了细致完备的支持。
Lorem® 系列8英寸离子束刻蚀(IBE)系统
Lorem® 系列的IBE 系统,基本原理是由离子源中引出正离子并加速,然后通过改性后形成的中性束流轰击样品表面,溅射形成刻蚀图像。由于等离子体的产生远离晶圆空间,起辉不受非挥发性副产物的影响,所以这种物理刻蚀设计方案在理论上可以刻蚀任何固体材料,尤其善于刻蚀ICP难以处理的非挥发副产物的金属、合金叠层的薄膜结构。
特殊设计的样品台可以偏转,实现离子束倾斜入射,应用于不对称结构(例如光栅,波导等)的图形化,也可实现损伤修饰,侧壁沾污清除等特色功能。Lorem® R 引入特定的化学气体,可实现兼顾高刻蚀速率和高刻蚀选择比的反应离子束刻蚀。
Shale® 系列8英寸化学气相沉积(CVD)系统
Shale® 系列的化学气相沉积系统,是针对8英寸产线薄膜沉积工艺所设计的量产设备。
Shale® A 为等离子体增强化学气相沉积(PECVD)系统,可以在400℃及以下沉积均匀致密的氧化硅、TEOS、BPSG、氮化硅、氮氧化硅、非晶硅、非晶碳、非晶碳化硅等薄膜。Shale® C则是通过电感耦合(ICP)产生高密度等离子体的 ICP-CVD 系统,可实现低温、高致密、低损伤、具备优良填充能力的薄膜沉积工艺。
Seehund® 系列气相分解金属沾污收集(VPD)系统
Seehund® 系列气相分解金属沾污收集系统(VPD)是专为集成电路制造、大晶圆生产及再生、先导工艺研发等行业提供金属沾污控制方案的产品。
随着摩尔定律的不断发展,晶圆制造产业对生产过程中的金属沾污控制要求也日趋严苛,其规格已经远低于TXRF和ICP-MS的测量极限,因此VPD技术应运而生。通过VPD的预处理工序,富集晶圆表面沾污成分,以此突破检测设备的灵敏度极限,从而满足晶圆产线的需求。该系统采用了12英寸及8英寸产线设备所通用的标准零部件,符合SEMI的设计标准,并经过了严苛的稳定性和可靠性测试验证。
CSEAC2023 报名火热进行中,
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会议
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参考资料:
CSEAC举办地址:无锡市太湖新城清舒道88号
展览面积:48000㎡
观众数量:58000
半导体行业资讯
2025-10-30 19:47:35108












