展商风采丨德国diondo工业CT——推动复合材料的研究迭代
来源: 聚展网2024-04-11 18:48:05 232分类: 复合材料资讯
上海恩迪检测控制技术有限公司诚邀您莅临于2024年6月19-21日在北京·中国国际展览中心(朝阳馆)举办的SAMPE中国2024年会暨第十九届国际先进复合材料制品、原材料、工装及工程应用展览会。
上海恩迪检测控制技术有限公司,一家专注于高端无损检测设备和系统的国家级高新技术企业,产品涵盖工业CT系统、XRD系统、超声波设备等,并致力于运用云数据、AI、高性能计算中心等技术实现无损检测的数据化、数字化和智能化的整体解决方案。
不断研发是企业持续发展的动力,公司现拥有专利50余项,软著4项,并通过了美国MAI III级认证、德国TUV认证、欧盟CE、ISO9001认证、知识产权体系认证等,为公司产品不断提升和持续发展奠定了坚实的基础。
微纳米高精度计算机断层扫描系统应用范围非常广,可用于高精度尺寸测量、缺陷分析、实物与CAD偏差分析、壁厚自动测量、纤维取向分析、模拟力学试验等。可以采用单管或双管配置,非常适用于汽车、电子、航空以及材料科学等行业的中小型部件检测。
- 190kV/225kV/240kV/300kV反射型高功率微焦点射线源,最大功率350W
- 可选190kV/225kV/240kV/300kV穿透型高分辨率纳米焦点射线源,最大靶功率50W
- JIMA卡空间分辨率测试可达0.5微米
- 支持多种平板探测器,探元大小可选100微米/127微米/139微米/200微米
- 最大检测范围:直径550mm x 高度700mm
- 最大承重:50kg
- 支持diHelix螺旋CT扫描
大型计算机断层扫描系统是应用范围最广的系统之一,可用于各种新型材料的高精度扫描,可实现高精度尺寸测量、缺陷分析、实物与CAD偏差分析、壁厚自动测量、纤维取向分析、模拟力学试验等。非常适用于汽车、电子、航空以及材料科学等行业的各型部件检测。
- 450kV/600kV高功率小焦点射线源
- 额外的225kV/240kV/300kV微米焦点射线源
- 独特的双射线源、双探测器设计
- 可同时配置平板探测器和线阵探测器
- 最大检测范围:直径700mm x 高度1000mm
- 最大承重:200kg
:022-59675387 合作信箱:market@sampe.org.cn
参考资料:
中国北京先进复合材料制品、原材料、工装及工程应用展览会
SAMPE中国年会
举办地区:北京
开闭馆时间:09:00-18:00
举办地址:北京朝阳区北三环东路六号
展览面积:30000㎡
观众数量:10000
举办周期:1年1届
主办单位:SAMPE中国大陆总会、中国化学纤维工业协会
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